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武漢鑠思百檢測技術有限公司
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更新時間:2023-01-01 09:06:26瀏覽次數:304次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線儀器名稱:單晶X射線分析儀型號:日本理學XtalAB檢測項目:晶體結構數據采集,晶體結構分析,晶胞參數,高溫,常溫性能指標:1.標準晶體結構測定數據還原結果:殘差因子≤5%2.標準晶體結構解析結果:≤0.05應用范圍:X射線單晶衍射儀用以測定一個新化合物(晶態(tài))分子的準確三維空間,包括鍵長、鍵角、構型、構像、成鍵電子密度及分子在晶格中的實際排布狀況
儀器名稱: | 單晶X射線分析儀 | 型號: | 日本理學XtalAB |
檢測項目: | 晶體結構數據采集,晶體結構分析,晶胞參數, 高溫,常溫 | ||
性能指標: | 1.標準晶體結構測定數據還原結果:殘差因子 ≤5% 2. 標準晶體結構解析結果:≤0.05 | ||
應用范圍: | X射線單晶衍射儀用以測定一個新化合物(晶態(tài))分子的準確三維空間, 包括鍵長、鍵角、構型、構像、成鍵電子密度及分子在晶格中的實際排布狀況。該儀器用于化學、藥物學、物理學、分子生物學和材料科學等方面的研究,用于中小分子直至大分子晶體的分子結構分析、構型測定和精密電子密度測定。 | ||
制樣要求 | 樣品必須是單晶 |
PS:送樣請附帶“委托測試單"。
測試提示:
1.可開正規(guī)測試發(fā)票,附帶測試清單。
2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產生損傷,測試后會對樣品產生哪些變化;
3.客戶需提供詳細的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細測試參數及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件;
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通,出現(xiàn)測試糾紛,郵件或記錄將作為重要的仲裁依據;請加和技術人員交流:。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規(guī)的樣品,一經發(fā)現(xiàn)將追究其法律責任。
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